русс | укр

Языки программирования

ПаскальСиАссемблерJavaMatlabPhpHtmlJavaScriptCSSC#DelphiТурбо Пролог

Компьютерные сетиСистемное программное обеспечениеИнформационные технологииПрограммирование

Все о программировании


Linux Unix Алгоритмические языки Аналоговые и гибридные вычислительные устройства Архитектура микроконтроллеров Введение в разработку распределенных информационных систем Введение в численные методы Дискретная математика Информационное обслуживание пользователей Информация и моделирование в управлении производством Компьютерная графика Математическое и компьютерное моделирование Моделирование Нейрокомпьютеры Проектирование программ диагностики компьютерных систем и сетей Проектирование системных программ Системы счисления Теория статистики Теория оптимизации Уроки AutoCAD 3D Уроки базы данных Access Уроки Orcad Цифровые автоматы Шпаргалки по компьютеру Шпаргалки по программированию Экспертные системы Элементы теории информации

Выбор основных параметров съемки дифрактограмм на рентгеновской установка типа ДРОН.


Дата добавления: 2014-05-08; просмотров: 894; Нарушение авторских прав


В настоящее время, аппаратура применяемая для съемки дифрактограмм, обладает широкими возможностями в плане изменения параметров съемки. В частности, семейство аппаратов ДРОН позволяет производить съемку в широком интервале угла 2Q (0 - 120°) с шагом съемки 0,1 – 0,01°, и временем экспозиции от 1 до 5 секунд. Как показывает практика, необходиммым и достаточным интервалом для проведения фазового анализа является участок 5 – 70° по 2Q. Для определения параметра кристаллической решетки, в случае съемки на бумажный носитель, необходима съемка рентгенограммы в интервале 100 - 110° по 2Q.

 

Приготовление образцов для проведения рентгенофазового анализа.

Процесс приготовления образцов для рентгенографического анализа включает в себя несколько стадий.

1. Необходимо перетереть образец для его гомогенизации по составу.

2. Перетертый порошок положить в кювету или на стекло с клеем ровным слоем несколько выше уровня кюветы или стекла (в случае применения кюветы необходимо добавить 1 каплю спирта для более прочного сцепления перетертых частиц с поверхностью кюветы).

3. Получившуюся насыпку препарируемого материала необходимо запрессовать при помощи несильного нажатия стеклянной пластинки, при этом в случае применения кюветы уровень порошка должен совпадать с уровнем кюветы. Отклонение от данного условия приводит к некоторой ошибке при рентгеновской съемке.

4. Если имеется риск полиморфного превращения при перетирании, то образец необходимо снимать в том виде, в каком имеется исследуемое вещество.

5. В случае съемки твердофазного объекта имеющего форму, сторона подвергаемая рентгенофазовому анализу должна быть тщательно подготовлена, т.е. отшлифована и механически отполирована.

 



<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Аппаратура для рентгененофазового анализа | Съемка дифрактограмм. Метод Брентано.


Карта сайта Карта сайта укр


Уроки php mysql Программирование

Онлайн система счисления Калькулятор онлайн обычный Инженерный калькулятор онлайн Замена русских букв на английские для вебмастеров Замена русских букв на английские

Аппаратное и программное обеспечение Графика и компьютерная сфера Интегрированная геоинформационная система Интернет Компьютер Комплектующие компьютера Лекции Методы и средства измерений неэлектрических величин Обслуживание компьютерных и периферийных устройств Операционные системы Параллельное программирование Проектирование электронных средств Периферийные устройства Полезные ресурсы для программистов Программы для программистов Статьи для программистов Cтруктура и организация данных


 


Не нашли то, что искали? Google вам в помощь!

 
 

© life-prog.ru При использовании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.

Генерация страницы за: 1.541 сек.