x1 x2 x3 x4 x5 x6 x7 x8 x9 x10 x11
| 1.000
|
0.000
| 0.194
|
0.000
|
0.000
|
0.000
|
0.000
| -0.739
|
0.000
| -0.105
|
0.000
|
| 0.000
| 1.000
| 0.000
| 0.000
| 0.691
| 0.000
| 0.000
| -0.499
| -0.223
| 0.000
| 0.000
|
| 0.205
| 0.000
| 1.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.425
| 0.000
| 0.000
| 0.042
|
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 1.000
| 0.000
| 0.006
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
|
| 0.000
| 0.766
| 0.000
| 0.000
| 1.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.223
| 0.000
| 0.000
|
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.598
| 0.000
| 1.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
|
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 1.000
| 0.000
| -0.519
| 0.056
| 0.000
|
| 0.018
| 0.049
| 0.004
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 1.000
| -0.198
| -0.472
| 0.000
|
| 0.000
| 0.037
| 0.000
| 0.000
| -0.078
| 0.000
| -0.027
| 0.155
| 1.000
| 0.053
| 0.000
|
| -0.059
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.072
| 0.454
| 0.506
| 1.000
| -0.003
|
| 0.000
| 0.000
| -0.386
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.490
| 1.000
|
и корректируется с учетом логистики технологической системы. Далее, соответственно алгоритму идентификации (рис.1.15), вводится вектор текущих относительных отклонений Dx1, …, Dxn в числовом виде
0.38; 1.22; 0.22; -0.63; 0.77; 0.24; 0.29; -1.91; 1.30; 1.69; 0.85
и по (1-12) составляется ситуационная матрица аномального состояния системы в заданном параметрическом пространстве, фрагмент которой представлен в таблице 1.5.
Матрица аномального состояния системы Sij
Таблица 1.5
x1 x2 x3 x4 x5 x6 x7 x8 x9 x10 x11
| -0.379
|
0.000
| 0.043
|
0.000
|
0.000
|
0.000
|
0.000
| -1.410
|
0.000
| -0.178
|
0.000
|
| 0.000
| 1.217
| 0.000
| 0.000
| 0.531
| 0.000
| 0.000
| -0.952
| -0.289
| 0.000
| 0.000
|
| 0.078
| 0.000
| 0.224
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.812
| 0.000
| 0.000
| 0.036
|
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.628
| 0.000
| 0.001
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
|
| 0.000
| 0.932
| 0.000
| 0.000
| 0.768
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.288
| 0.000
| 0.000
|
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.376
| 0.000
| 0.236
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
|
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.291
| 0.000
| -0.672
| 0.094
| 0.000
|
| 0.007
| 0.059
| 0.001
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -1.908
| -0.257
| -0.798
| 0.000
|
| 0.000
| 0.045
| 0.000
| 0.000
| -0.060
| 0.000
| -0.008
| 0.296
| 1.296
| 0.090
| 0.000
|
| -0.022
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| -0.021
| 0.866
| 0.655
| 1.691
| -0.002
|
| 0.000
| 0.000
| -0.086
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.000
| 0.828
| 0.849
|
По алгоритму диагностирования (рис.1.8) на главной диагонали ситуационной матрицы (таблица 1.5) выбирается максимальное по модулю отклонение Dx8 = -1.908 и строится причинно-следственная цепь связей
(8:10), (10:8) “цикл “,
(10:9), (9:8) ”цикл ”,
(9:10)” цикл ”,
(9:2), (2:8) “цикл “,
(2:5), (5:2) “цикл “.
При диагностировании отклонения параметра выходного продукта, например Dx11 =0.849 , причинно-следственная линия выглядит как
(11:10), (10:8), (8:10) “цикл “,
(8:9), (9:8) ”цикл ”,
(9:10) “цикл “,
(9:2), (2:8) “цикл “,
(2:5), (5:2) “цикл “.
Здесь поиск можно прервать, так как цепь воздействий по менее значимым линиям связи вновь замыкается на ранее прерванные циклы и в наблюдаемом пространстве исходная причина оказывается в цикле функционального взаимодействия (2:5), (5:2), т.е. объясняется отклонением параметров x2 и x5 , соответственно плотностей обезжиренного и заквашиваемого молока. По найденному направлению наибольшего функционального влияния “(11:10), (10:8),(8:9), (9:2), (2:5), (5:2)” дается сообщение:
“Отклонение Dx11 – содержания сухих веществ в сыворотке обусловлено отклонением плотностей обезжиренного и заквашиваемого молока x2 иx5 через изменение времени и температуры сепарирования x9 , x8 и pH творожной основы x10 .“
Другие примеры построения структурно-параметрических моделей взаимосвязей и ситуаций в технологических системах даны в приложении 1.
Описанные модели и алгоритмы структурно-параметрического моделирования и идентификации могут быть использованы для разработки интерактивной системы анализа многофакторных и многосвязных технологических систем по переработке биосырья. Примером может служить информационная технология и экспертная система контроля качества и безопасности продуктов питания, описываемые в следующем разделе.
Оценка качества продуктов питания связана с контролем их физико-химических, органолептических, микробиологических и маркетинговых свойств, указанных в госстандартах и определяющих полную техническую характеристику стандартизируемой продукции. Управление качеством на предприятии предусматривает сбор, обработку и анализ информации о состоянии материальных потоков и производственных процессов на всех их стадиях. Свойства, характеризующие качество, по значимости разделяются на следующие группы.
Критические свойства – группа свойств, которая однозначно определяет возможность использования продуктов на пищевые цели. К этой группе должны быть отнесены ветеринарно-санитарные показатели и микроэлементный состав продукта.
Существенные свойства – группа свойств, в значительной мере определяющих ценность, например, молочных продуктов. К ним могут быть отнесены жирность, кислотность, содержание белка, витаминов, а также консистенция, вкус и запах, содержание влаги, содержание сахара.
К свойствам, слабо влияющим на качество, можно отнести вид упаковку, цвет и т.п.
Перечень показателей качества молочной продукции представлен в таблице 1.6.
Информационные технологии, обеспечивающие выработку продукции заданного ассортимента с заданными свойствами и параметрами, в том числе показателями пищевой и биологической ценности, связаны с нахождением экстремума некоторого функционала качества
, (1-20)
где zij, bij – отклонение j-го фактора i-й группы и его
весовой коэффициент;
ai – коэффициент значимости i-й группы факторов;
zk – отклонение k-го фактора критической группы.
Все изменяемые параметры zij и zk приводятся к безразмерной шкале относительных величин (1-18).
Функционал изменяется от 1 до 0, соответственно, от эталонного состояния качества до его граничного значения и обращается в нуль при выходе любого параметра критической группы за предельно допустимый уровень.