русс | укр

Языки программирования

ПаскальСиАссемблерJavaMatlabPhpHtmlJavaScriptCSSC#DelphiТурбо Пролог

Компьютерные сетиСистемное программное обеспечениеИнформационные технологииПрограммирование

Все о программировании


Linux Unix Алгоритмические языки Аналоговые и гибридные вычислительные устройства Архитектура микроконтроллеров Введение в разработку распределенных информационных систем Введение в численные методы Дискретная математика Информационное обслуживание пользователей Информация и моделирование в управлении производством Компьютерная графика Математическое и компьютерное моделирование Моделирование Нейрокомпьютеры Проектирование программ диагностики компьютерных систем и сетей Проектирование системных программ Системы счисления Теория статистики Теория оптимизации Уроки AutoCAD 3D Уроки базы данных Access Уроки Orcad Цифровые автоматы Шпаргалки по компьютеру Шпаргалки по программированию Экспертные системы Элементы теории информации

Поперечный перенос


Дата добавления: 2013-12-23; просмотров: 1049; Нарушение авторских прав


Рассмотрим движение носителей в направлении, перпендикулярном плоскостям потенциальных барьеров, разделяющих квантовые структуры. Тако вид переноса часто ассоциируется с квантовым переносом или туннелированием, поскольку при этом энергия носителей может быть меньше энергии, требуемой для преодоления потенциальных барьеров. Для преодоления частицей потенциального барьера ее волновая функция и ее производная должны быть непрерывными (в указанном перпендикулярном направлении), что сразу приводит к задаче о прохождении и отражении на границах раздела.

 

Резонансное туннелирование

На рис. 6.6, а представлены схематически энергетические диаграммы наноструктуры с двойным барьером, изготовленный из нелегированного GaAs, покрытого с двух сторон слоями AlGaAs, на рис. 6.6, б и 6.6, в представлена аналогичная структура, при приложении возрастающего по величине электрического поля. Резонансное туннелирование происходит при напряжении Vt = 2E/e, где Е совпадает с квантовым энергетическим уровнем E1. При эитом уровень Ферми EF для меиталлического контакта слева совпадает с уровнем n=1 ямы и коэффициент туннельного пропускания приближается к единице, в результате чего ток через структуру возрастает. Когда величина приложенного поля становится выше 2E/e и уровень EF превышает Е1, ток через структурууменьшается как показано на рис. 6.6, в. На рис. 6.6, г представлена схематически зависимость тока от напряжения (вольт-амперная характеристика) для такой структуры. Очевидно, что при дальнейшем возрастании напряжения V барьеры, которые приходится преодолевать электронам, становятся меньшими по величине, и ток через структуру должен вновь нарастать.

 

Рис. 6.6 Общая схема описываемого резонансного туннельного эффекта.

 

Для понимания характеристик пропускания двойного барьера удобно воспользоваться расчетами, относящимися к одиночным барьерам удобно воспользоваться расчетами, относящимися к одиночным барьерам, для которых вероятность пропускания T(E) (иногда этот коэффициент называют просто прозрачностью барьера) непрерывно возрастает с ростом энергии Е электронов в диапазоне энергий E/е<V0. Ситуация кардинально изменяется в случае двойного барьера, когда сама функция T(E) приобретает более сложный вид и представляет собой произведение двух величин, а именно TE (для первого барьера или эмиттера) и TF (для второго барьера или коллектора), что дает



 

. (6.2)

 

Задача наиболее просто решается в случае идентичности барьеров. Коэффициент пропускания такой двухбарьерной структуры определяется соотношением

 

, (6.3)

 

где величины Т0 и R0 представляют собой коэффициенты пропускания и отражения для одиночного барьера, а – толщина ямы, параметр k является волновым числом электрона для волновой функции внутри ямы, а q– фазовый угол.

На рис.6.7 представлена зависимость T(E) для некоторой структуры с резонансным туннелированием (RT – структуры), описываемой тремя энергетическими уровнями в квантовой яме. Отметим, что коэффициент пропускания становится равным единице при трех значениях энергии, совпадающих с энергией каждого из уровней, т.е. кргда энергия падающего электрона равна энергии одного из уровней. При этом ширина резонансного пика возрастает с энергией, что может быть качественно объяснено на основе принципа неопределенности Гейзенберга (в соответствии с этим принципом величина DE должна быть обратно пропорциональна времени жизни t состояний внутри ямы). Туннелирование электронов на более высоких уровнях проходит через более низкие барьеры, вследствие чего им и соответствуют меньшие значения t.

 

 

Рис. 6.7 (а) Схема преодоления электроном с энергией Е двойного резонансного барьера. Квантовая яма имеет три энергетических уровня (Е1, Е2 и Е3); (б) зависимость коэффициента пропускания от энергии падающего электрона.

 



<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Продольный перенос | Квантовый перенос в наноструктурах


Карта сайта Карта сайта укр


Уроки php mysql Программирование

Онлайн система счисления Калькулятор онлайн обычный Инженерный калькулятор онлайн Замена русских букв на английские для вебмастеров Замена русских букв на английские

Аппаратное и программное обеспечение Графика и компьютерная сфера Интегрированная геоинформационная система Интернет Компьютер Комплектующие компьютера Лекции Методы и средства измерений неэлектрических величин Обслуживание компьютерных и периферийных устройств Операционные системы Параллельное программирование Проектирование электронных средств Периферийные устройства Полезные ресурсы для программистов Программы для программистов Статьи для программистов Cтруктура и организация данных


 


Не нашли то, что искали? Google вам в помощь!

 
 

© life-prog.ru При использовании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.

Генерация страницы за: 0.009 сек.