Рис. 48.1 Схема для определения структуры поля рассеяния
Каждому виду обработки свойственна величина рассеяния, характеризуемая полем рассеяния ω. Однако внутри данного вида обработки значения ω изменяется и зависит от точности и жёсткости станка.
Особое место занимает точность изготовления деталей, которая определяет близость к номинальному значению. Количественной меркой точности служит погрешность. Повышение точности, уменьшение погрешности приведёт к увеличению надёжности машин, уменьшает размеры припусков на обработку и приводит к экономии материала.
Погрешности обработки подразделяют на 5 видов:
- погрешность размеров;
- отклонение расположения поверхностей;
- отклонение формы;
- волнистость поверхности;
- шероховатость.
Систематические составляющие (a0) – погрешности остаются постоянными или закономерно изменяются. Например, отклонение размера блока концевых мер при измерении, изменение уровня настройки станка при износе инструмента и т.п.
или функцией , если изменяется в зависимости от случайного аргумента (например, времени t).
Величина этой составляющей определяется широтой рассеяния, которую принято измерять числом укладывающихся в ней средних квадратических отклонений . представляет собой среднее взвешенное по вероятностям значение случайно: величины. Следуют напомнить, что “ взвешивание ” значений случайное величины означает умножение каждого значения на его “вес”, т.к. на , с последующим делением суммы произведений на сумму “весов”,
т.е. .
На рисунке представлена структура поля рассеяния погрешности обработки валов на токарном станке. К систематическим составляющим поля рассеяния относят:
1. среднее начальное значение систематической погрешности ;
2. величина изменения систематической составляющей в рассматриваемом интервале времени и . Здесь - скорость изменения мгновенного центра рассеяния.
- межналадочный период при изготовлении или диапазон изменения при измерении.
Случайная составляющая определяется средними квадратическими отклонениями:
- начальных погрешностей от их среднего значения;
- мгновенного рассеяния σ, т.е. рассеяния единичных значений параметра относительно изменяющегося по закону от их мгновенных центров в пределах .