Тестирование схем с памятью

Все рассмотренные методы можно использовать для тестирования комбинационных схем. Реальные же схемы обычно содержать еще и запоминающие схемы. Поэтому выходная реакция такой схемы зависит не только от входных переменных, но и от внутреннего состояния в предыдущий момент времени. Поэтому для анализа выходного сигнала необходимо анализировать последовательность выходных действий.

Длина последовательности равна числу элементов памяти. Схемы с памятью называются последовательностными. И их можно представить в следующем виде:

Для тестирования таких схем применяются два подхода:

1. Преобразование схемы в комбинационную или метод Хаффмана.
   
2. Анализ таблиц истинности, в которых входные подбираются так, чтобы при разных наборов проверялись все состояния. Для тестирования БИС (большие интегральные схемы) применяются. Построение контролепригодных схем,  построение самотестируемых схем.

Применения способов тестирования отличных от полного перебора.

Разложение в ряд Рида-Малера.
Разложение функции трех переменных:

F(x1,x2,x3) = C0+C1x1+ C2x3+ C12x1x2+ C23x2x3+ C13x1x3+ C123x1x2x3
C0=F(0,0,0)
C1 = F(0,0,0)+F(1,0,0)
C1 = F(0,0,0)+F(0,1,0)
C1 = F(0,0,0)+F(1,0,0)
C1 = F(0,0,0)+F(0,0,1)
C12 = F(0,0,0)+F(1,0,0)+ F(0,1,0)+ F(1,1,0)
C13 = F(0,0,0)+F(1,0,0)+ F(0,0,1)+ F(1,0,1)
C23 = F(0,0,0)+F(0,1,0)+ F(0,0,1)+ F(0,1,1)
C123 = F(0,0,0)+F(1,0,0)+F(0,1,0)+ F(0,0,1)+F(1,1,0)+ F(0,1,1) )+F(1,0,1)+ F(1,1,1)

Пример: Пусть дана функция:

C0 = 1
C1 = 1+1 = 0  Сумма по модулю 2
C2 = 1+ 0 = 1
C3 = 1 + 1 = 0
С12 = 1+ 1+ 0 + 1 = 1
С23 = 1+ 0+1+ 1 = 1
С13 = 1+1+ 1+0 = 1
С123 = 1+1+0+1+1+0+1+1 = 0

Аналогичная функция:
F(x1,x2,x3) = 1+x2+x1x2+x2x3+x1x3