Величины нейтронного потока при котором возникают необратимые изменения в резисторах и короткое замыкание, нейтр/см2
<== предыдущая статья | следующая статья ==>
Тип резисторов
| Начало
изменений
| Короткое
замыкание
| Углеродистые композиционные
постоянные
| 1013
| 1019
| переменные
| 1013
| 1019
| Углеродистые пленочные постоянные
| 1013
| 109
| переменные
| 1013
| 1019
| Проволочные постоянные
| 1019
| 1020
| Проволочные и ленточные переменные
| 1019
| 1020
|
Рисунок 10.1 - Зависимость сопротивления тонкопленочных (1 – 3) и проволочных (4) резисторов от длительности гамма – облучения при общей дозе 2*109 Р.
Импульсное (длительность импульса 0,1 мс) гамма – облучение дозой 103 Р при мощности дозы 107 Р/с в резисторах различных номиналов вызывает обратимые изменения.
Таблица 10.4.
Номинал, кОм
| Изменение величины сопротивления во время облучения в %
| 1
| 1
| 10
| 0,5 – 4
| 100
| 5 – 15
| 1000
| 30 – 75
| 10000
| 65 – 85
|
При малых дозах импульсного нейтронного и гамма облучения, воздействующих одновременно, изменение параметров резисторов разных типов носит обратимый характер (величина изменения определяется не конструкцией, а размерами резисторов). Характеристики резисторов полностью восстанавливаются через 1 – 5 мс после облучения.
<== предыдущая статья | следующая статья ==>
|
|
Карта сайта
Карта сайта укр
Видео
Уроки php mysql
Программирование
Онлайн сервисы
Онлайн система счисления
Калькулятор онлайн обычный
Инженерный калькулятор онлайн
Замена русских букв на английские для вебмастеров
Замена русских букв на английские
Полезное
Аппаратное и программное обеспечение
Графика и компьютерная сфера
Интегрированная геоинформационная система
Интернет
Компьютер
Комплектующие компьютера
Лекции
Методы и средства измерений неэлектрических величин
Обслуживание компьютерных и периферийных устройств
Операционные системы
Параллельное программирование
Проектирование электронных средств
Периферийные устройства
Полезные ресурсы для программистов
Программы для программистов
Статьи для программистов
Cтруктура и организация данных
|