русс | укр

Языки программирования

ПаскальСиАссемблерJavaMatlabPhpHtmlJavaScriptCSSC#DelphiТурбо Пролог

Компьютерные сетиСистемное программное обеспечениеИнформационные технологииПрограммирование

Все о программировании


Linux Unix Алгоритмические языки Аналоговые и гибридные вычислительные устройства Архитектура микроконтроллеров Введение в разработку распределенных информационных систем Введение в численные методы Дискретная математика Информационное обслуживание пользователей Информация и моделирование в управлении производством Компьютерная графика Математическое и компьютерное моделирование Моделирование Нейрокомпьютеры Проектирование программ диагностики компьютерных систем и сетей Проектирование системных программ Системы счисления Теория статистики Теория оптимизации Уроки AutoCAD 3D Уроки базы данных Access Уроки Orcad Цифровые автоматы Шпаргалки по компьютеру Шпаргалки по программированию Экспертные системы Элементы теории информации

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДИОДЫ


Дата добавления: 2015-08-14; просмотров: 651; Нарушение авторских прав


 

p – n-переход и его свойства

Область на границе двух полупроводников с различными типами проводимости называется электронно-дырочным или p – n-переходом. На практике p – n-переход получают введением в примесный полупроводник дополнительной легирующей примеси. Например, у полупроводника
p
-типа вводится донорная примесь. При соприкосновении двух полупроводников в пограничном слое происходит рекомбинация электронов и дырок. Свободные электроны из зоны полупроводников n-типа занимают свободные уровни в валентной зоне полупроводника p-типа. В результате вблизи границы двух полупроводников образуется запирающий слой, лишенный подвижных носителей заряда и поэтому обладающий
высоким электрическим сопротивлением.

Кроме того, в n-области в приграничном слое образуется положительный объемный заряд, который создан положительными заряженными
атомами донорной примеси (так как электроны ушли в полупроводники р-типа), а в p-области образуется отрицательный объемный заряд, который
создан отрицательными заряженными атомами акцепторной примеси
(так как дырки были заполнены электронами из полупроводников n-типа).

Между образовавшимися объемными зарядами возникает
контактная разность потенциалов:

 

Uк= φn – φp.

На рисунке 21 показано распределение потенциала вдоль оси х, перпендикулярной границе раздела двух полупроводников, за нулевой потенциал принят условно потенциал граничного слоя.

Возникшая разность потенциалов Uк создает в запирающем слое электрическое поле, препятствующее дальнейшему переходу электронам из
n-области в p-область и дырок из p-области в n-область, т. е. возникает потенциальный барьер.

В то же время электроны из полупроводника p-типа могут свободно двигаться в полупроводник n-типа так же, как дырки из полупроводника n-типа могут двигаться в полупроводник p-типа, т. е. контактная разность потенциалов препятствует движению основных носителей заряда и не препятствует движению неосновных носителей заряда. При движении
через p – n-переход неосновных носителей заряда возникает дрейфовый ток Iдр. Движение небольшого количества основных носителей приводит к появлению диффузионного тока Iдиф. Рассмотрим ситуацию при отсутствии внешнего напряжения.



    Рисунок 21 – Распределение потенциала вдоль оси х, перпендикулярной границе раздела, при отсутствии внешнего источника напряжения  
φn
H5 AwAA//8DAFBLAQItABQABgAIAAAAIQC2gziS/gAAAOEBAAATAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAAABbQ29u dGVudF9UeXBlc10ueG1sUEsBAi0AFAAGAAgAAAAhADj9If/WAAAAlAEAAAsAAAAAAAAAAAAAAAAA LwEAAF9yZWxzLy5yZWxzUEsBAi0AFAAGAAgAAAAhAMKDG379AQAADAQAAA4AAAAAAAAAAAAAAAAA LgIAAGRycy9lMm9Eb2MueG1sUEsBAi0AFAAGAAgAAAAhAENiFrjbAAAACQEAAA8AAAAAAAAAAAAA AAAAVwQAAGRycy9kb3ducmV2LnhtbFBLBQYAAAAABAAEAPMAAABfBQAAAAA= " strokecolor="black [3040]">
n
p
φ
+ φ
φp
x
Uк
Пусть теперь источник внешнего напряжения подключен положительным полюсом к полупроводнику p-типа и отрицательным полюсом к полупроводнику n-типа. Такое напряжение, у которого полярность совпадает с полярностью основных носителей, называется прямым (рисунок 22).

В этом случае внешнее электрическое поле направлено навстречу полю контактной разности потенциалов. В результате высота потенциального барьера понижается, возрастает Iдиф, который называют прямым током, сопротивление p – n-перехода резко снижается, уменьшается
также ширина запирающего слоя. Когда d = 0, то потенциальный барьер
в p – n-переходе исчезает и сопротивление p – n-перехода определяется
только сопротивлением полупроводника.

Пусть источник внешнего напряжения подключен положительным полюсом к n-области, а отрицательным полюсом – к p-области. Такое включение называется обратным.

Поле, создаваемое обратным напряжением Uобр, складывается с полем контактной разности потенциалов. Высота потенциального барьера увеличивается (рисунок 23), а также расширяется толщина запирающего слоя, так как с увеличением Uобр основные носители заряда будут удаляться от p – n-перехода.

x
Uк + Uобр
Eобр
Eк
n
p
iобр
iобр
Uобр
+
+

– φ
+ φ
Uк –Uпр
x
Eпр
Eк
+
+
+
+
+
iпр
iпр
n
p
  Рисунок 22 – Распределение потенциала при прямом включении источника  
Рисунок 23 – Распределение потенциала при обратном включении источника  

 

 


При этом сопротивление p – n-перехода увеличивается, ток через p – n-переход становится очень малым. Такой p – n-переход обладает электрической емкостью, которая зависит от его площади, ширины, диэлектрической проницаемости запирающего слоя и называется барьерной емкостью.

C
  При увеличении Uобр ширина p – n-перехода возрастает С уменьшается (рисунок 24).


    Рисунок 24 Рисунок 24 – Зависимость C от Uобр  

 

 

Uобр

Uобр




<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ РЕЗИСТОРЫ | Выпрямительные диоды


Карта сайта Карта сайта укр


Уроки php mysql Программирование

Онлайн система счисления Калькулятор онлайн обычный Инженерный калькулятор онлайн Замена русских букв на английские для вебмастеров Замена русских букв на английские

Аппаратное и программное обеспечение Графика и компьютерная сфера Интегрированная геоинформационная система Интернет Компьютер Комплектующие компьютера Лекции Методы и средства измерений неэлектрических величин Обслуживание компьютерных и периферийных устройств Операционные системы Параллельное программирование Проектирование электронных средств Периферийные устройства Полезные ресурсы для программистов Программы для программистов Статьи для программистов Cтруктура и организация данных


 


Не нашли то, что искали? Google вам в помощь!

 
 

© life-prog.ru При использовании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.

Генерация страницы за: 0.929 сек.