Известные способы повышения быстродействия ключей и интегральных схем на их основе можно условно разделить на две группы - конструктивно-технологические и схемные.
К конструктивно-технологическим способам повышения быстродействия можно отнести:
¾ Использование быстродействующих транзисторов с малыми паразитными емкостями. Это особенно эффективно реализуется в цифровых ИС, выполненных на кристалле с субмикронными технологическими нормами (малые размеры – малые паразитные емкости). При изготовлении транзисторов обычно используют диффузию атомов золота, что существенно снижает время жизни носителей заряда;
¾ Работа в режиме с большими токами коллектора и базы. Большие токи обеспечивают ускоренный заряд и разряд паразитных емкостей;
¾ Уменьшение перепада напряжения между низким и высоким уровнем также способствует сокращению времени перезаряда емкостей. Стандартная логика использует напряжение питания 5 В. Современная логика переходит на напряжение питание 3.3 В и менее. Особенно эта тенденция отчетливо прослеживается в технике микропроцессоров. Напряжение питания вычислительного ядра процессора Pentium уже снизилось до напряжения порядка 1 В. Здесь уместно напомнить, что при уменьшении напряжения питания необходимо принимать комплекс мер (сложных и дорогих), связанных с поддержанием приемлемой помехозащищенности;
Схемотехнические способы повышения быстродействия позволяют при тех же транзисторах реализовать более быстрое переключение за счет схемных решений:
1) Если сравнивать простые схемы ключей, то ключ (рис 2.3а) более быстродействующий, чем 2.2б, так как рассасывание неосновных носителей в базе происходит более эффективно при наличии отрицательного источника смещения.
2) Простое увеличение тока базы (за счет уменьшения Rб) неэффективно. Конечно же, при этом уменьшается время включения транзистора за счет быстрого накопления носителей. Но при этом транзистор попадает в режим глубокого насыщения, накапливается избыточный заряд в базе, растет время рассасывания носителей при запирании транзистора, увеличивается задержка фронта при выключении. Этого можно избежать, используя ключ с ускоряющим (форсирующим) конденсатором СУСК (рис 2.5). Подобные схемы широко используются, легко реализуются в ключах на дискретных компонентах.
Рис 2.5. Схема ключа с ускоряющим конденсатором и временные диаграммы его работы
В исходном состоянии при Uвх=Е0 транзистор заперт, ток Iк ~0, ток базы Iб ~0, конденсатор Суск разряжен.
При подаче входного импульса Uвх=Е1 конденсатор Суск начинает заряжаться и в первый момент протекает большой ток заряда, равный IБmax=Ег/Rг. В области базы большим током быстро накапливаются неосновные носители, транзистор отпирается. По мере заряда Суск ток уменьшается и когда конденсатор зарядится (полярность показана на рис 2.5), ток базы определяется лишь резисторами в цепи базы удерживается на грани насыщения Iбн. Оптимально будет, если заряд, накопленный в ускоряющей емкости, будет равен граничному заряду неосновных носителей в базе, при котором транзистор войдет в насыщение.
Этому условию соответствует . Величина Суск в реальных случаях составляет тысячи пикофарад.
При появлении на входе сигнала низкого уровня Uвх=Е0, к базе транзистора оказывается приложенным отрицательное напряжение на конденсаторе Суск, что вызывает ускоренное рассасывания заряда неосновных носителей и транзистор форсированно закрывается. Иногда для уменьшения времени перезаряда конденсатора включается вспомогательный диод VD.
Этот метод эффективно повышает быстродействие ключа и широко используется в ключах на дискретных компонентах. Однако в интегральной технологии такой способ неприемлем из-за сложности изготовления на кристалле емкости большого номинала.
Повышение быстродействия ключа за счет нелинейной обратной связи
Эффективным способом повышения быстродействия ключа является использование нелинейной обратной связи за счет диода Шоттки, включенном между коллектором и базой транзистора (рис 2.6).
Рис 2.6. Схема ключа с нелинейной обратной связью
а) Ключ с диодом Шоттки; б) Ключ на транзисторе Шоттки
При закрытом ключе напряжение на коллекторе высокое, диод Шоттки обратно смещен и не влияет на состояние ключа. Входной импульс напряжения открывает ключ форсированным током базы (Rб мало), происходит быстрое накопление носителей в базе. Но как только транзистор войдет в насыщение и напряжение Uкэ упадет до (0.2…0.4) В, открывается диод Шоттки и избыточный входной ток, минуя базу транзистора, уходит в коллекторную цепь, вследствие чего транзистор остается на грани насыщения; отсутствует накопление избыточных зарядов в базе, задержка при выключении минимальна.
Диод Шоттки представляет собой контакт металл-полупроводник. Вольтамперная характеристика имеет экспоненциальный вид, как у обычного полупроводникового диода с p-n переходом, но величина «пятки» меньше и составляет (0.2…0.4)В. Благодаря этому фиксации состояния транзистора происходит на грани насыщения. При использовании обычного диода с p-n переходом эффект повышения быстродействия пропадает, так как транзистор оказывается в глубоком насыщении из-за большой «пятки». Топология биполярного транзистора с диодом Шоттки на кристалле, по сути, представляет собой новый полупроводниковый элемент – транзистор Шоттки, условное изображение которого показано на рис 2.6б. В ключах на транзисторах Шоттки время задержки уменьшается практически в 3 раза по сравнению с обычным ключом.
Ключи на транзисторах Шоттки широко используются в цифровых ИС.