русс | укр

Языки программирования

ПаскальСиАссемблерJavaMatlabPhpHtmlJavaScriptCSSC#DelphiТурбо Пролог

Компьютерные сетиСистемное программное обеспечениеИнформационные технологииПрограммирование

Все о программировании


Linux Unix Алгоритмические языки Аналоговые и гибридные вычислительные устройства Архитектура микроконтроллеров Введение в разработку распределенных информационных систем Введение в численные методы Дискретная математика Информационное обслуживание пользователей Информация и моделирование в управлении производством Компьютерная графика Математическое и компьютерное моделирование Моделирование Нейрокомпьютеры Проектирование программ диагностики компьютерных систем и сетей Проектирование системных программ Системы счисления Теория статистики Теория оптимизации Уроки AutoCAD 3D Уроки базы данных Access Уроки Orcad Цифровые автоматы Шпаргалки по компьютеру Шпаргалки по программированию Экспертные системы Элементы теории информации

Лекция №1 Основные понятия и определения метрологии.


Дата добавления: 2014-06-19; просмотров: 957; Нарушение авторских прав


Между ориентированными графами без кратных ребер с множеством вершин V = {v1, ..., vn} и бинарными отношениями на множестве V существует взаимно-однозначное соответ­ствие: отношению R соответствует ориентированный граф G (R), в кото­ром ребро (v', v") существует, если и только если выполнено v'Rv". Аналогичное взаимно-однозначное соответствие существует между симметрическими бинарными отношениями и неориентированными графами.

Рассмотрим теперь соответствие между операциями над отноше­ниями и операциями над графами. Каждое отношение R имеет отрица­ние R, истинное тогда и только тогда, когда R ложно. Например, для отношения равенства v' = v" отрицанием является отношение неравенства v' v", для отношения ортогональности v' v", опре­деленного для элементов векторного пространства, отрицанием является отношение отличия скалярного произведения от 0: (v', v") 0. Граф G ( R) является дополнением графа G (R) по отношению к полному ориентированному графу К(V) с множеством вершин V, на котором задано рассматриваемое бинарное отношение R, и множеством дуг E (К (V)) = V X V. Граф G (R-1), где R-1 — отношение, обратное R, отличается от графа G(R) тем, что направления всех дуг заменены на обратные.

Отношение R' содержит отношение R, если они определены на од­ном и том же множестве V и из v' Rv" следует v' R' v". В этом случае гово­рят также, что отношение R' следует из отношения R, и пишут R' R. Соответствующие графы G(R) и G(R') имеют одно и то же множество вершин V, а множество Е(R) ребер первого является подмножеством множества Е(R) ребер второго. Таким образом, G(R) является суграфом графа G (R'), т. е. G (R') G (R).

Для любых бинарных отношений R1 и R2, заданных на одном и том же множестве V, можно определить сумму (объединение) R1 U R2 и пересечение



v' (R1U R2) v" = v' R1 v" V v' R2 v";

v' (R1 R2) v" = v' R1 v" & v' R2 v".

Соответствующие графы также являются суммой и пересечением

G(R1U R2) = G(R1) U G(R2);

G(R1 R2) = G(Rl) G(R2).

 

Некоторые типы графов хорошо описываются на языке бинарных отношений. Например, нуль-граф

Æ(V), не имеющий ребер, соответ­ствует нулевому отношению v'0v", ложному для любой пары { v', v"} V > V; полному ориентированному графу К (V) соответствует уни­версальное отношение v'U v", всегда истинное.

Если R рефлексивно, то G (R) имеет петли во всех вершинах; если R антирефлексивно, то G (R) не имеет петель. Если R транзитивно, то в графе G (R) для каждой пары ребер (v', v") и (v", v"') имеется замыкаю­щее ребро (v', v"').

Лекция №1 Основные понятия и определения метрологии.

Метрологические характеристики измерительных средств и их нормирование.

Методы уменьшения погрешности измерительных средств.

Государственная система обеспечения единства измере­ния.

Обработка результатов измерения.

Государственный стандарт и системы сертификации.

Первичные измерительные преобразователи.

 

Современные технологические процессы должны иметь хоро­шее информационное обеспечение, т.е. должна иметься достоверная информация обо всех физических величинах, которые нужно контро­лировать для поддержания технологического процесса в заданных условиях. Поскольку современные технологические процессы ха­рактеризуются большой сложностью объём измерительной инфор­мации, который необходимо получать с объекта удваивается каждые 2-3 года. Для сбора этой информации существуют специальные средства, которые носят название контрольно-измерительных сис­тем. Эти системы могут существовать как отдельный технический объект или быть интегрированы в контрольно-управляющую сис­тему.

Метрология ¾ наука об измерениях, методах и средствах обес­печения их единства и способах достижения требуемой точности. С греческого: metros-мера, logos-наука.

Метрология делится на 3 части:

· теоретическая метрология, где рассматриваются общие во­просы теории измерения

· прикладная метрология изучает вопросы практического применения результатов теоретических исследований

· законодательная метрология рассматривает комплекс пра­вил, норм и требований регламентируемых государствен­ными органами для обеспечения единства измерений и еди­нообразия средств измерений.

Сертификация ¾ одно из понятий, обеспечивающих подтвер­ждение качества товаров и услуг заданным требованиям. Понятие «сертификация» тесно связано со стандартами и организационными мероприятиями по обеспечению контроля качества на всех этапах, начиная от проектирования и разработки и вплоть до продажи и экс­плуатации.

Измерительные преобразователи ¾ устройства, предназначен­ные для преобразования одного вида информации в другой, удобный для обработки, передачи и хранения.

 

               
   
 
   
 
 
   
 
   
 

 


Теоретическая

метрология

 

 

Основные представления метрологии Основные понятия и термины
Постулаты метрологии
Учение о фи­зических ве­личинах
Методология измерений
Теория единства измерений Теория еди­ниц физиче­ских величин
Теория этало­нов
Теория пере­дачи единиц физических величин
Теория построения средств измерений Средства из­мерений
Методы из­мерений
Теория точности измерений Теория по­грешности измерений
Теория точ­ности средств измерений
Теория изме­рительных проце­дур

 



<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Графы и бинарные отношения. | Измерения и физическая величина.


Карта сайта Карта сайта укр


Уроки php mysql Программирование

Онлайн система счисления Калькулятор онлайн обычный Инженерный калькулятор онлайн Замена русских букв на английские для вебмастеров Замена русских букв на английские

Аппаратное и программное обеспечение Графика и компьютерная сфера Интегрированная геоинформационная система Интернет Компьютер Комплектующие компьютера Лекции Методы и средства измерений неэлектрических величин Обслуживание компьютерных и периферийных устройств Операционные системы Параллельное программирование Проектирование электронных средств Периферийные устройства Полезные ресурсы для программистов Программы для программистов Статьи для программистов Cтруктура и организация данных


 


Не нашли то, что искали? Google вам в помощь!

 
 

© life-prog.ru При использовании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.

Генерация страницы за: 0.021 сек.