русс | укр

Языки программирования

ПаскальСиАссемблерJavaMatlabPhpHtmlJavaScriptCSSC#DelphiТурбо Пролог

Компьютерные сетиСистемное программное обеспечениеИнформационные технологииПрограммирование

Все о программировании


Linux Unix Алгоритмические языки Аналоговые и гибридные вычислительные устройства Архитектура микроконтроллеров Введение в разработку распределенных информационных систем Введение в численные методы Дискретная математика Информационное обслуживание пользователей Информация и моделирование в управлении производством Компьютерная графика Математическое и компьютерное моделирование Моделирование Нейрокомпьютеры Проектирование программ диагностики компьютерных систем и сетей Проектирование системных программ Системы счисления Теория статистики Теория оптимизации Уроки AutoCAD 3D Уроки базы данных Access Уроки Orcad Цифровые автоматы Шпаргалки по компьютеру Шпаргалки по программированию Экспертные системы Элементы теории информации

Программное обеспечение. Форма сохранения и выдачи информации


Дата добавления: 2014-05-08; просмотров: 736; Нарушение авторских прав


Программное обеспечениемикроскопа СММ-2000Т позволяет осуществить: автоматический подвод зонда к поверхности образца до захвата туннельного тока (после ручного подвода на расстояние 0,5 мм); сканирование зонда по поверхности образца; преобразование полученного трёхмерного оцифрованного массива данных в пространственное изображение поверхности (рис. 6) и его математическую обработку.

Программное обеспечение даёт возможность представлять полученное изображение в двумерном виде, когда высоты рельефа поверхности образца отображаются 64 градациями цвета – от нулевой (обычно максимально тёмного цвета) до 63-й (обычно максимально светлого). Нулевой градации соответствует нижняя высота рельефа поверхности (впадина). Имеется возможность создания палитры различных цветов.

В программном обеспечении СММ-2000Т есть возможность вывода результатов и в трёхмерном виде с учётом освещения поверхности скана одним виртуальным (мнимым, созданным программным обеспечением) источником света с тенями, отходящими от бугорков и находящимися в ямках её рельефа.

Трёхмерное изображение скана можно поворачивать на различные углы относительно двух осей, при этом меняя высоту и угол освещения виртуального источника света.

Программное обеспечение позволяет на двумерном изображении поверхности производить метрологические измерения рельефа поверхности по высоте в любом направлении.

Программное обеспечение реализовано под операционную среду Windows, что обеспечивает возможность дальнейшей обработки информации любыми программами, в том числе графическими и текстовыми редакторами, совместимыми с системой Windows.

Использование компьютера в качестве управляющего, контролирующего, обрабатывающего устройства в технологическом процессе исследований на СТМ позволяет проводить эксперименты на СММ-2000Т в дистанционном режиме, в том числе применять СТМ в дистанционном обучении.



Возможность сохранения изображений поверхности образца в оцифрованном трёхмерном виде и записи на электронный носитель (дискета 3,5") позволяет выводить и обрабатывать изображение на устройствах обработки и вывода, расположенных там, где удобно исследователю.

Рис. 6. Пример информации, выдаваемой после проведения исследований на СТМ: а – двумерное изображение исследованной поверхности с проведённой на нём линией сечения; б – трёхмерное изображение поверхности объекта; в – профилограмма по сечению двумерного изображения; г – окно установки параметров измерения профиля по сечению.

Пример выдаваемой информации приведён на рис. 6: а – двумерное изображение поверхности с проведённой на нём линией сечения (окно Scanner); б – трёхмерное изображение поверхности объекта, где размеры изображения по оси X и Y отложены в микрометрах, по оси Z – в нанометрах (окно 3D-View); в – профилограмма по сечению двумерного изображения, где по горизонтальной оси отложена длина сечения в микрометрах, а по вертикальной - высота неровностей по оси Z в нанометрах (окно Profile); г – окно установки параметров измерения профиля по сечению, где в нижней части в разделе "Measure" между значками < >и < >приведено расстояние между точками профиля, ограниченными двумя вертикальными линиями на профилограмме: по горизонтальной оси (верхнее значение) в микрометрах и по вертикальной оси, оси Z (нижнее значение) – в нанометрах (окно 1D-Setup).

 



<== предыдущая лекция | следующая лекция ==>
Развитие микроскопии ближнего поля и расширение области её применения | Термический анализ.


Карта сайта Карта сайта укр


Уроки php mysql Программирование

Онлайн система счисления Калькулятор онлайн обычный Инженерный калькулятор онлайн Замена русских букв на английские для вебмастеров Замена русских букв на английские

Аппаратное и программное обеспечение Графика и компьютерная сфера Интегрированная геоинформационная система Интернет Компьютер Комплектующие компьютера Лекции Методы и средства измерений неэлектрических величин Обслуживание компьютерных и периферийных устройств Операционные системы Параллельное программирование Проектирование электронных средств Периферийные устройства Полезные ресурсы для программистов Программы для программистов Статьи для программистов Cтруктура и организация данных


 


Не нашли то, что искали? Google вам в помощь!

 
 

© life-prog.ru При использовании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.

Генерация страницы за: 0.203 сек.