При исследовании неметаллических объектов существует 2 вида несовершенств решетки: микронапряжения (дефекты II рода) и статические искажения структуры (дефекты III рода).
Микронапряжения – наибольшие отклонения параметров решетки от средних значений. Для веществ с кубической симметрией мерой искажения можно считать отношение 
, где а – среднее значение параметра кубической ячейки, Da – максимальное отклонение от среднего а.
Микронапряжения возникают при образовании твердых растворов внедрения, когда внедряющиеся атомы (С,N,O) статически заполняют часть пустот решетки, а также в ряде других случаев. Характерным признаком присутствия микронапряжений является уширение линий. Микронапряжения определяются при помощи расчетов по методу определения областей когерентного рассеяния.
