В результат измерения вводится первая поправка (первая итерация):
y3=Kсиx+D+Kсиdx-Dy1=Kсиx-d(D+ Kсиdx). (8.14)
Далее повторяется итерационная процедура.
Результат преобразования y3
. (8.15)
Результат измерения xоп2:
. (8.16)
Вычисление поправки Dy2 и запоминание:
. (8.17)
Новое измерение x и внесение второй поправки (вторая итерация):
. (8.18)
Поскольку d<1, то процесс итерации сходится. После n итераций получим результат:
. (8.19)
При d<1, следовательно,
.
Практически полной коррекции погрешности измерения добиться невозможно, так как будут оказывать влияние неточности средств, задействованных в итерационной процедуре.
Основным достоинством итерационных методов является корректирование общей погрешности СИ независимо от вызвавших ее причин.
Недостатки: ограниченная область применения из-за необходимости использования достаточно точного обратного преобразователя; необходимость оценки и учета погрешности дискретизации, связанной с периодическим отключением измеряемой величины.
При реализации итерационных методов с пространственным разделением каналов отключение измеряемой величины не требуется. На рис. 8.5 представлена структурная схема такой системы итеративной коррекции. В состав системы входит несколько одинаковых прямых (ПП) и обратных образцовых (ОП) преобразователей.
Преобразования, реализуемые системой:
и т.д.
Рис. 8.5. Структурная схема реализации метода итеративной коррекции
погрешностей с пространственным разделением каналов
Поскольку d<<1, то yn»Kппx+D. Это означает, что мультипликативная погрешность скорректирована полностью, но остается аддитивная погрешность последнего преобразователя.
Методы образцовых мер (сигналов) основаны на определении в процессе цикла измерений реальных значений параметров функции преобразования средства измерений путем отключения от входа СИ измеряемой величины и подключения образцовых мер.
Метод предполагает, что функция преобразования средства измерений с достаточной точностью описывается полиномом порядка n-1.
, (8.20)
где di – коэффициенты функции преобразования средства измерений.
Структурная схема измерительной системы, реализующей данный метод, показана на рис. 8.6.