русс | укр

Языки программирования

ПаскальСиАссемблерJavaMatlabPhpHtmlJavaScriptCSSC#DelphiТурбо Пролог

Компьютерные сетиСистемное программное обеспечениеИнформационные технологииПрограммирование

Все о программировании


Linux Unix Алгоритмические языки Аналоговые и гибридные вычислительные устройства Архитектура микроконтроллеров Введение в разработку распределенных информационных систем Введение в численные методы Дискретная математика Информационное обслуживание пользователей Информация и моделирование в управлении производством Компьютерная графика Математическое и компьютерное моделирование Моделирование Нейрокомпьютеры Проектирование программ диагностики компьютерных систем и сетей Проектирование системных программ Системы счисления Теория статистики Теория оптимизации Уроки AutoCAD 3D Уроки базы данных Access Уроки Orcad Цифровые автоматы Шпаргалки по компьютеру Шпаргалки по программированию Экспертные системы Элементы теории информации

Измерение толщины изделия, слоя покрытия

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

 

Измерять толщину материала приходится практически везде: при производстве изделий, при контроле их качества, при проведении разнообразных исследований и т.п.

Для этой цели применяют различные методы:

  • магнитные методы (по магнитному сопротивлению цепи);
  • с помощью ультразвука (на отраженном сигнале);
  • пневматические методы (обдувается потоком воздуха, измеряется скорость потока);
  • микроволновые методы (на принципе интерферометра);
  • оптико-электронные методы;
  • триангуляционный метод;
  • метод с использованием инфракрасного излучения.

Для этих целей кроме рассмотренных методов используют также метод ионизирующего излучения. В основе данного метода лежит сравнение интенсивностей падающего, отраженного или проходящего излучений. Коэффициент поглощения относят к плотности материала изделия с учетом типа излучателя. Интенсивность отражательного излучения зависит от атомной массы вещества и толщины изделия. Данный метод используют в тех случаях, когда возможен доступ к изделию только с одной стороны. Используют все виды излучения. Для тарировки прибора имеются контрольные образцы. На результаты измерений влияют различные факторы: температура, наличие примесей.

Рис. 3.2 Схема ионизационного толщиномера: 1,6 – источники рабочего и компенсационного излучения; 3,4 – ионизационные камеры; 5 – диафрагма; 7 – следящее устройство; 8 – усилитель; 9 – преобразователь; 10 – резистор.

Детекторы толщины пленок бывают механическими, оптическими, электромагнитными и емкостными.

При измерениитолщиныслоя покрытия используют методы:

  • ионизирующего излучения;
  • инфракрасное излучение (на отраженном сигнале);
  • вихревые токи;
  • механические методы (ролик);
  • радиоволновые устройства.

Рис. 3.3 Схема прибора для измерения толщины покрытий:1 — испытуемая деталь

Оптические методы могут применяться только с прозрачными и полупрозрачными пленками.

Емкостные методы позволяют получать большие изменения выходного сигнала. Для обеспечения точности измерений плоские пластины, имитирующие конденсатор с параллельными пластинами, должны быть строго параллельны исследуемой пленке.

На рис 3.4. представлена конструкция датчика со сферическим электродом, используемым для измерения толщины пленки. Для уменьшения краевых эффектов шарик помещен в активный экран, помогающий направлять электрическое поле через диэлектрическую пленку на подложку.

Рис. 3.4 Емкостной датчик толщины диэлектрической пленки.

Просмотров: 301

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

Это будем вам полезно:

Методы и средства измерения количества тепла

Принципы работы спектрофотометрических сенсоров

Силоизмерительные установки

Интеллектуальные дактилоскопические сенсоры

Хронофлуорометры

Промышленные ППР сенсоры

Фотоплетизмография "на отражение"

Угловые акселерометры

Особенности измерение расхода газообразных сред

Перепадно-силовые расходомеры

Сенсоры с люминесцентными "маркерами"

Спектрофотометрия в обратно рассеянном свете

Дифференциально-трансформаторные датчики положения и перемещения объектов

Конструкции сенсоров на ПАВ

Вернуться в оглавление:Методы и средства измерений неэлектрических величин




Карта сайта Карта сайта укр


Уроки php mysql Программирование

Онлайн система счисления Калькулятор онлайн обычный Инженерный калькулятор онлайн Замена русских букв на английские для вебмастеров Замена русских букв на английские

Аппаратное и программное обеспечение Графика и компьютерная сфера Интегрированная геоинформационная система Интернет Компьютер Комплектующие компьютера Лекции Методы и средства измерений неэлектрических величин Обслуживание компьютерных и периферийных устройств Операционные системы Параллельное программирование Проектирование электронных средств Периферийные устройства Полезные ресурсы для программистов Программы для программистов Статьи для программистов Cтруктура и организация данных


 


Полезен материал? Поделись:

Не нашли то, что искали? Google вам в помощь!

 
 

© life-prog.ru При использовании материалов прямая ссылка на сайт обязательна.